光學自動檢測技術與職場經驗分享

課程：論文研討(一)
日期：2012/10/19
時間：13:50 ~ 15:30
學生：資傳研一-劉健興
演講者：宏瀨科技研發處長 - 詹方興

所謂的光學自動檢測技術可分為1-D(如一維條碼檢測、位移檢測)、2-D(如圖像識別、瑕疵分類、二維條碼檢測等等)和3-D(如形狀量測、高度瑕疵偵測)，而這次演講者做的是螢幕顯示器的壞點偵測，光學自動檢測技術(簡稱AOI) 有五項優點；效率高、非破壞性、解析度高、速度快和具重現性。

什麼是AOI?