課程: 論文研討(三)
日期 : 2012/10/19
時間 : 13:50 ~ 15:10
學生 : 資傳研二溫千力
演講者 : 宏瀨科技 詹方興
日期 : 2012/10/19
時間 : 13:50 ~ 15:10
學生 : 資傳研二溫千力
演講者 : 宏瀨科技 詹方興
心得報告:
光學自動檢測(AOI)解決無法以傳統方式使用人力與光學儀器進行檢測體積較小的面板,且可加快生產速度。AOI是以機器視覺作為檢測標準技術,利用光學儀器取得成品表面,再以影像處理技術來檢驗出有瑕疵的不良品,由於是非接觸式檢查無破壞性也可在生產過程中檢驗半成品,AOI效率高、速度快與具重現性。AOI系統各個元件包括鏡頭、相機(area或line scan)、影像擷取卡、計算平台(DSP或PC=>彈性高且可快速開發)、照明設備、機械平台與自動化(PLC或PC control)。最後演講者介紹AOI設備整體運作流程的影片。
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