光學自動檢測技術與職場經驗分享

課程: 論文研討(一)
日期 : 2012/10/19
時間 : 13:50 ~ 15:30
學生 : 資傳研一 李金龍
演講者 : 宏瀨科技研發處長 - 詹方興

心得感想:

      AOI(自動光學檢測)，使用光學影像以及影像比對檢測技術進行產品的檢測，用於輕薄短小、密度高之電子產品的檢測，在不需測試治具、不需電子量測且不破壞產品的情況下，有效檢測出元件的各種不良的缺陷。其優點1.效率高 2.速度快 3.解析度高 4.非破壞性 5.具重現性。

FPD AOI 各類設備

1.彩色濾光片自動光學檢測系統（CF AOI）

2.配向膜自動光學檢測系統（PI AOI）

3.框膠製程自動光學檢測系統（Seal AOI）

4.點燈檢測系統（Light-on Inspection）

5.毛邊檢測自動光學檢測系統（Burr Check）

6.自動複檢系統（ARM）

7.亮度與色度不均缺陷自動光學檢測系統（Mura AOI）

AOI運作流程程序主要使用有

1.鏡頭 2.相機 3.影像攝取 4.電腦 5.照明 6.掃描平台 7.自動化 8.軟體

詹處長以他們公司的為例

鏡頭為最主要，所用的是MTF解析

相機主要用來感測，傳輸有680M的高速率

影像攝取有以FPGA為核心運作的

電腦為AOI系統放置地

照明對於被檢測物件都是一致性的

掃描平台以速度和平穩為主      

自動化(控制)能自動的流水線工作

軟體方面則是用戶介面與控制

AOI 趨勢

會越來越快速

會越來越高精密度

從2D進化到3D

更多的系統整合其中

圖片來源:網路