光學自動檢測技術與職場經驗分享

課程: 論文研討(一)
日期 : 2012/10/19
時間 : 13:50 ~ 15:30
學生 : 資傳研一 陳玉霖
演講者 : 宏瀨科技 詹方興

自動光學檢查（Automated Optical Inspection，AOI)，使用光學影像及影像比對檢測技術進行產品的檢測。針對輕薄短小、密度高之電子產品的檢測需求而開發，在不需測試治具、不需電子量測且不破壞產品的情況下，可有效檢出元件的各種不良製程。AOI除了可避免傳統人工目檢的不穩定因素，亦可加速檢測時間，有效為產品的品質把關，提高產能及減少生產、維修成本。

圖片來源:http://zh.wikipedia.org/wiki/%E8%87%AA%E5%8B%95%E5%85%89%E5%AD%B8%E6%AA%A2%E6%9F%A5

資料來源:http://www.tri.com.tw/cht/qa_aoi.aspx